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GW-4040型XRF岩屑元素分析仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。将Ｘ射线荧光分析（ＸＲＦ）用于岩屑录井是目前岩屑分析中最快速最便捷的技术，这项技术的独到之处在于：能过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位．因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
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